Servicio de Corte Láser

• Corte de aceros, acrílicos y otros materiales. 

  ATENCIÓN AL PÚBLICO: Lunes a Viernes, de 9:00 a 13:00 horas y de 13:30 a 17:30 horas.

  TEL - FAX: 0221 471-4341

  email: scl@ciop.unlp.edu.ar

  Instructivo  

En el área de metrología óptica

• Medición de distancias; Medición de diámetro, ancho o espesor de objetos, velocidades de superficies.
  Contacto: Eduardo Grumel
• Alineación, posicionamiento y control de grandes componentes y máquinas con precisión sub-milimétricas (motores, puentes, estructuras, etc.)
  Contacto: Mario Gallardo
• Detección remota de desplazamientos. Medida de microdesplazamientos por medio de interferometría speckle digital. Interferometría holográfica.
• Diagnóstico y procesamiento de imágenes. Aplicaciones a contaje de objetos y  determinación de propiedades geométricas.
  Contacto: Héctor Rabal
• Diseño y fabricación de dispositivos para identificación de objetos.
  Contacto: Néstor Bolognini ; Myrian Tebaldi
• Identificación y seguridad en protección de documentación y productos
  Contacto: Néstor Bolognini
• Medición de velocidad de fluidos por Doppler
  Contacto: Jorge Tocho

En el área de fibras ópticas

• Calibración y certificación de instrumental vinculado a los enlaces de fibra óptica.
• Diseño y desarrollo de dispositivos (amplificadores, laseres, fuentes ASE) y sensores por fibras ópticas.
• Aplicación a la medición de desplazamientos en rangos micro y submicrométricos, deformaciones, vibraciones, temperatura, corrosión.
  
  Contacto: lameco@ciop.unlp.edu.ar
• Asesoramiento en temas de comunicaciones por fibra óptica.
  
  Contacto: Sergio Noriega, Ricardo Duchowicz

En medición de tamaño de partículas

• Determinación  de tamaño promedio de partículas nanométricas 50nm-150nm) y micrométricas (1nm100nm)
• Validación de granulómetros opticos comerciales.
  Contacto: Lucia Scaffardi; Jorge Tocho

En medición de contaminantes gaseosos atmosféricos

• Asesoramiento en medición de contaminantes gaseosos atmosféricos por técnicas ópticas
• Determinación de SO₂ y NO₂ en Chimeneas industriales y en ambiente urbano.
  Contacto: Daniel Schinca;  Jorge Tocho; Fabian Videla

En limpieza de superficies con láser

• Eliminación de suciedad superficial de objetos de valor cultural, manufacturas, piezas producidas a escala industrial, etc.
• Medición automática de limpieza o nivel de suciedad: Aplicable a superficies de objetos, manufacturas en etapa de producción, control de procesos industriales, etc.
  Contacto: Gabriel Bilmes

En determinación de composición de materiales por métodos espectroscópicos no destructivos.

• Aplicaciones a procesos y piezas industriales.
• Caracterización de piezas únicas, objetos arqueológicos o de valor patrimonial.
  Contacto: Gabriel Bilmes

En caracterización de fuentes luminosas y detectores

• Caracterización espectral de lámparas fluorescentes, LEDS y otras fuentes luminosas.
  Contacto: Fausto Bredice; Jorge Reyna Almandos
• Caracterización radiométrica de fuentes luminosas y detectores.
  Contacto: Alberto Lencina; Fabián Videla